viernes, 19 de septiembre de 2008

Estadísticas de patentes para la toma de decisiones

La OECD y la EPO han puesto han publicado algunas de las presentaciones llevadas a cabo en la conferencia "Patent Statistics for Decision Makers", llevada a cabo en Viena el 3 y 4 de septiembre de este año.

El programa completo se puede consultar aquí, y algunas de las charlas publicadas son:

• Roger J. Burt (Senior Counsel, Intellectual Property Law, IBM Europe): Patent strategies? Just-in-case;

• Nils Omland (WHU Otto Beisheim School of Management): The use of patent data to measure patent value: an overview;

• Jun Suzuki (National Graduate Institute For Policy Studies) [Authors: A. Goto (Japan Fair Trade Comission), K. Motohashi (University of Tokyo), Y. Naito (Artificial Life Laboratory), J. Suzuki, S. Tamada (Kansei Gakuin University and RIETI)]: Patent citations in Japan: database construction for inventor and examiner citations;

• Hugo Pillu (ERASME, Ecole Centrale Paris): Measure of international knowledge flows thorough input-based patent citation indicator;

• Alessandro Sterlacchini [Authors: F. Schettino, A. Sterlacchini, F. Venturini (Universita Politecnica delle Marche)]: Inventive productivity and patent quality: evidence from Italian inventors;

• Bart Leten [Authors: R. Belderbos, S. Kelchtermans, B. Leten (KU Leuven)]: Usage of, or involvement in science: what matters for firm technological performance?; and

• Peter Hingley (European Patent Office) [Authors: S. Bas (LMU Munich), P. Hingley]: Number and sizes of applicants at the EPO.

Si bien solo se pueden descargar copias de las presentaciones, sirve para tener una noción de los temas que se están tratando.

Más información: info@patentnapsis.com